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YRi-V 3D混合型光学式外观检查机

YRi-V 3D混合型光学式外观检查机

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产品详情

/  PRODUCT DETAILS

超高速、高精度的检查

新型检查头

新研发出高性能检查头,使得2D检查、3D检查以及4方向倾视相机的所有检查能力都得以大幅提高。实现了可对应全部SMT市场的检查能力。


超高速检查

 

通过采用雅马哈独创的高刚性框架结构,不仅实现了高精度检查,而且还实现了超高速检查,与以往相比,检查速度加快了1.6~2.0倍,可对应大量生产的检查。


8方向投影装置/4方向投影装置(选择)

 

通过使用最新配备的8方向投影装置,可以对应0201mm元件的狭窄邻接型贴装的检查。削减了大型元件的检查死角,实现了高精度的3D检查。另外,还增大了3D测量范围,可对应元件最大高度达25mm的3D检查。


2000万像素的 4方向斜视相机

 

采用了2000万像素的高分辨率相机。通过清晰的图像,实现了准确的2次判定。由于图像质量的增强,使得斜视图像的自动检查精度也大幅提高。


支持半导体领域的检查

新研发出可满足半导体行业检查流程中所要求的检查功能。可对晶片及WLCSP等半导体元件的裂纹、缺欠等进行细微检查,为设备产品的高品质化提供支援。


超高分辨率 5μm镜头

 

新追加了超高分辨率的5μm镜头,与以往的7μm镜头相比,可实现更加精细的检查。使得如0201mm元件这般极小型元件的高精度检查以及元件的裂纹、缺欠等细微检查的性能得以提高。


配备同轴照明

为了对镜面元件的表面进行准确的检查,在雅马哈自主研发的3段白色圆顶型照明中又追加配备了同轴照明。可对晶片及WLCSP等半导体元件的表面进行清晰摄影,提高了半导体领域所必要的检查能力。

 

 


强化基板传送能力

支持大型基板

标准规格即可对应L610×W610mm的大型基板。如若采用双轨系统,还可实现W320mm的L尺寸基板的双轨流动。

 

 


双轨系统

新研发出可对各个传送轨道进行灵活调整的双轨系统。不仅提高了与上游及下游设备的连接性,而且还可以灵活构建各种类型的双轨生产线。


小型基板流动

2品种流动
基板尺寸合计可达640mm

同一品种流动


有效利用AI的最新软件解决方案

采用新设计的GUI

 

采用了新的操作画面设计,兼具先进的设计性和易观看性。另外还配备可简便创建数据的新功能。


移动终端判定及 QA Option

经由无线LAN,可将不良元件的图像发送到操作人员携带的移动终端上,在移动终端上即可进行良否判定。产线人员即可判定,有助于实现省人化。

 


自动创建检查数据

 

可将CAD、CAM、各种贴片机数据等各种数据直接转换为检查数据。还可以根据GERBER格式的数据自动生成基板图像。另外,还能够对DIP基板的通孔进行自动检测,自动创建检查数据。


元件资料库的自动匹配【AI功能】

 

可根据相机拍摄的图像,经由AI对元件种类进行确定,并自动将其适用于最为恰当的元件资料库。为创建检查数据的简易化做出了贡献。


基本规格

 

YRi-V

对象基板尺寸

L610 × W610(最大)~ L50 × W50(最小)(单轨机型时)
※支持L750mm超长基板(选配)

基板可搬入的元件高度

上面 :45mm 底面 :85mm(单轨机型时)

最大3D测量高度

25mm

相机像素

1,200万像素

4方向斜视相机像素
3D检查速度(最佳条件下)

2,000万像素

4方向投影装置

12μm分辨率规格

7μm分辨率规格

5μm分辨率规格

56.8cm²/s

19.6cm²/s

10.1cm²/s

外形尺寸(突起部除外)

L1,252 x W1,497 x H1,614mm

主体重量

1,480kg

因改良需要,规格及外观可能会有所变更,恕不另行通知。


外观尺寸

 

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